0500 Oau 1100 2005 2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2005-05104 2051 ##0##10.17192/z2005.0510 3000 Torunski, Torsten 4000 Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen 4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2005/0510=x H 5050 |530 5584 Galliumarsenid / Aluminiumarsenid / Mischkristall 5584 (GaIn)(NAs) 5584 Inhomogeneous strain fields 5584 Durchstrahlungselektronenmikroskopie 5584 (GaIn)(NAs) 5584 Verfeinerte Strukturfaktorberechnungen 5584 Refined structure factor calculations 5584 Metastabilität 5584 Inhomogene Verspannungsfelder 5584 Drei-Fünf-Halbleiter 5584 Physik 5584 TEM 5584 TEM opus:1198