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Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) von Zakel, Julia
Veröffentlicht 2014Beteiligte: “… Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) …”
Signatur: diss/z2014/0338PDF-Volltext
Dissertation