Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate
The aim of the present study was the growth of antimony-based buffer layers with the lattice constant of InP on a GaP/Si pseudosubstrate by metal organic vapor phase epitaxy (MOVPE) and their structural investigation by atomic force microscopy (AFM), X-ray diffraction (XRD), and (scanning) transmiss...
Сохранить в:
Главный автор: | |
---|---|
Другие авторы: | |
Формат: | Dissertation |
Язык: | английский |
Опубликовано: |
Philipps-Universität Marburg
2017
|
Предметы: | |
Online-ссылка: | PDF-полный текст |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|