Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Energy efficiency plays a key role in the development of new industrial as well as daily life applications. There exists a strong demand for a new energy efficient generation of optoelectronic devices, especially in the growing market of internet data transfer where devices operate in the 1.55 µm...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Knaub, Nikolai
Другие авторы: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Научный руководитель)
Формат: Dissertation
Язык:английский
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2016
Предметы:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Схожие документы