Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

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Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Knaub, Nikolai
Beteiligte: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2016
Schlagworte:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
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