Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Knaub, Nikolai
Beteiligte: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2016
Schlagworte:
semiconductor physics
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Halbleiterphysik
Verdünnte Legierung
dilute bismide alloys
III-V semiconductors
Bismut
Verbindungshalbleiter
Physik
Scanning transmission electron microscopy
Physics
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Signatur: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-06566
Publikationsdatum: 2016-09-29
Datum der Annahme: 2016-06-23
Downloads: 93 (2024), 110 (2023), 38 (2022), 42 (2021), 33 (2020), 22 (2019), 11 (2018)
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
Zugangs-URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0656
https://doi.org/10.17192/z2016.0656

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