Short- and Intermediate-Range Structures in GeTe-Sb2Te3 and Ag-GeSe3 Glasses Studied by Anomalous X-Ray Scattering

Die vorliegende Dissertation beschreibt die atomare Struktur von zwei Systemen ternärer Chalkogenid-Gläser mit der Zusammensetzung Agx(GeSe3){1-x} und (GeTe){1-x}(Sb2Te3){x}. Um neue Erkenntnisse besonders im Hinblick auf die Struktur auf intermediären Längen-skalen zu erhalten, wird die Methode der anomalen Röntgenstreuung (AXS) in Kombination mit Reverse Monte Carlo-Simulationen (RMC) angewandt. Die theoretischen und experimentellen Grundlagen für die Interpretation der Messdaten werden im ersten Teil der Arbeit beschrieben, während die Ergebnisse der Experimente und der RMC-Simulationen im zweiten Teil präsentiert und interpretiert werden. Beide betrachteten Systeme sind von besonderem technologischem Interesse, daher werden zuverlässige Informationen über ihre Struktur benötigt, um zur anhaltenden Diskussion über die Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in diesen Materialien beizutragen. Die Ergebnisse werden im Kontrast zu den diversen weiteren Arbeiten präsentiert, die zu diesen Materialien bereits publiziert worden sind, und die Möglichkeiten und Grenzen der verschiedenen verwendeten Ansätze werden erörtert. Dadurch wird aufgezeigt, dass wichtige Materialeigenschaften, wie die Phasenwechsel-Eigenschaften der GeSbTe-Gläser und die superionische Leitfähigkeit in den AgGeSe-Gläsern, eng verknüpft sind sowohl mit der Nah- als auch mit der mittelreichweitigen Ordnung in den amorphen Strukturen.