Nichtlineare optische Spektroskopie an der Galliumphosphid-Silizium(001)-Grenzfläche

In dieser Arbeit wurde die Grenzfläche zwischen Galliumphosphid (GaP) und Silizium(001) (Si), einem polaren, respektive nicht polaren indirekten Halbleiter, mittels nichtlinearer optischer Spektroskopie untersucht. Dabei stand die optische Frequenzverdopplung an der Grenzfläche im Vordergrund. Es ko...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Brixius, Kristina
Beste egile batzuk: Höfer, Ulrich (Prof. Dr.) (Tesi aholkularia)
Formatua: Dissertation
Hizkuntza:German
Argitaratua: Philipps-Universität Marburg 2014
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:PDF testu osoa
Etiketak: Etiketa erantsi
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