Nichtlineare optische Spektroskopie an der Galliumphosphid-Silizium(001)-Grenzfläche

In dieser Arbeit wurde die Grenzfläche zwischen Galliumphosphid (GaP) und Silizium(001) (Si), einem polaren, respektive nicht polaren indirekten Halbleiter, mittels nichtlinearer optischer Spektroskopie untersucht. Dabei stand die optische Frequenzverdopplung an der Grenzfläche im Vordergrund. Es ko...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Brixius, Kristina
Інші автори: Höfer, Ulrich (Prof. Dr.) (Керівник дипломної роботи)
Формат: Dissertation
Мова:німецька
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2014
Предмети:
Онлайн доступ:PDF-повний текст
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!