Nichtlineare optische Spektroskopie an der Galliumphosphid-Silizium(001)-Grenzfläche

In dieser Arbeit wurde die Grenzfläche zwischen Galliumphosphid (GaP) und Silizium(001) (Si), einem polaren, respektive nicht polaren indirekten Halbleiter, mittels nichtlinearer optischer Spektroskopie untersucht. Dabei stand die optische Frequenzverdopplung an der Grenzfläche im Vordergrund. Es ko...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Brixius, Kristina
מחברים אחרים: Höfer, Ulrich (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
פורמט: Dissertation
שפה:גרמנית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2014
נושאים:
גישה מקוונת:PDF-Volltext
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!