Nichtlineare optische Spektroskopie an der Galliumphosphid-Silizium(001)-Grenzfläche

In dieser Arbeit wurde die Grenzfläche zwischen Galliumphosphid (GaP) und Silizium(001) (Si), einem polaren, respektive nicht polaren indirekten Halbleiter, mittels nichtlinearer optischer Spektroskopie untersucht. Dabei stand die optische Frequenzverdopplung an der Grenzfläche im Vordergrund. Es ko...

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Tallennettuna:
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Päätekijä: Brixius, Kristina
Muut tekijät: Höfer, Ulrich (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Aineistotyyppi: Dissertation
Kieli:saksa
Julkaistu: Philipps-Universität Marburg 2014
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