Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...
-д хадгалсан:
Үндсэн зохиолч: | |
---|---|
Бусад зохиолчид: | |
Формат: | Dissertation |
Хэл сонгох: | герман |
Хэвлэсэн: |
Philipps-Universität Marburg
2014
|
Нөхцлүүд: | |
Онлайн хандалт: | PDF-н бүрэн текст |
Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
Интернэт
PDF-н бүрэн текстЗохиогчийн тэмдэгт: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03389 |
---|---|
Хэвлэлийн огноо: |
2014-06-13 |
Datum der Annahme: |
2014-05-19 |
Downloads: |
136 (2024), 154 (2023), 153 (2022), 144 (2021), 151 (2020), 268 (2019), 218 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
Хандалтын URL: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0338 https://doi.org/10.17192/z2014.0338 |