Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

पूर्ण विवरण

में बचाया:
ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Zakel, Julia
अन्य लेखक: Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (शोध सलाहकार)
स्वरूप: Dissertation
भाषा:जर्मन
प्रकाशित: Philipps-Universität Marburg 2014
विषय:
depth profiling
Leitfähigkeit
ion conducting glasses
ToF-SIMS
Gläser
Chemie
Tiefenprofilierung
Chemistry & allied sciences
ऑनलाइन पहुंच:पीडीएफ पूर्ण पाठ
टैग: टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!

इंटरनेट

पीडीएफ पूर्ण पाठ

होल्डिंग्स विवरण से
बोधानक: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03389
प्रकाशन तिथि: 2014-06-13
Datum der Annahme: 2014-05-19
Downloads: 140 (2024), 154 (2023), 153 (2022), 144 (2021), 151 (2020), 268 (2019), 218 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
यूआरएल में प्रवेश करें: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0338
https://doi.org/10.17192/z2014.0338

समान संसाधन