Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Zakel, Julia
Beste egile batzuk: Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (Tesi aholkularia)
Formatua: Dissertation
Hizkuntza:alemana
Argitaratua: Philipps-Universität Marburg 2014
Gaiak:
depth profiling
Leitfähigkeit
ion conducting glasses
ToF-SIMS
Gläser
Chemie
Tiefenprofilierung
Chemistry & allied sciences
Sarrera elektronikoa:PDF testu osoa
Etiketak: Etiketa erantsi
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Internet

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Aleari buruzko argibideak
Sailkapena: urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03389
Argitaratze data: 2014-06-13
Datum der Annahme: 2014-05-19
Downloads: 140 (2024), 154 (2023), 153 (2022), 144 (2021), 151 (2020), 268 (2019), 218 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL sarbidea: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0338
https://doi.org/10.17192/z2014.0338

Antzeko izenburuak