Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
In dieser Arbeit wurden GaP/Si-Heterostrukturen, die mittels MOVPE gewachsen wurden, mit Hilfe verschiedener TEM-Methoden untersucht. Die HAADF-Technik hat sich als geeignete Methode zur Untersuchung der Grenzfläche und Auftreten der APDs auf atomarer Skala erwiesen. Trotz der oft gelobten intuitive...
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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Beteiligte: | |
| Format: | Dissertation |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
Philipps-Universität Marburg
2012
Physik |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | PDF-Volltext |
| Tags: |
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Online
PDF-Volltext| Signatur: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2012/0905 https://doi.org/10.17192/z2012.0905 urn:nbn:de:hebis:04-z2012-09054 |
|---|---|
| Downloads: |
30 (2019), 195 (2018), 124 (2017), 90 (2016) |
| Publikationsdatum: |
2012-10-05 |
| Lizenz: |
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