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Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
In dieser Arbeit wurden GaP/Si-Heterostrukturen, die mittels MOVPE gewachsen wurden, mit Hilfe verschiedener TEM-Methoden untersucht. Die HAADF-Technik hat sich als geeignete Methode zur Untersuchung der Grenzfläche und Auftreten der APDs auf atomarer Skala erwiesen. Trotz der oft gelobten intuitive...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
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| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Dissertation |
| Język: | German |
| Wydane: |
Philipps-Universität Marburg
2012
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| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | PDF pełnotekstowe |
| Etykiety: |
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