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Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium
In dieser Arbeit wurden GaP/Si-Heterostrukturen, die mittels MOVPE gewachsen wurden, mit Hilfe verschiedener TEM-Methoden untersucht. Die HAADF-Technik hat sich als geeignete Methode zur Untersuchung der Grenzfläche und Auftreten der APDs auf atomarer Skala erwiesen. Trotz der oft gelobten intuitive...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
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| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Dissertation |
| Taal: | German |
| Gepubliceerd in: |
Philipps-Universität Marburg
2012
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| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | PDF Full text |
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