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Investigation of semiconductor nanostructures using optical two-dimensional Fourier-transform spectroscopy.
The aim of this work is the exploration of the recently developed optical two-dimensional Fourier-transform spectroscopy (2D-FTS) method and its application in the field of semiconductor physics. The main idea of 2D-FTS is to gain information about the excited system and disentangle different contr...
| Автор: | |
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| Інші автори: | |
| Формат: | Dissertation |
| Мова: | англійська |
| Опубліковано: |
Philipps-Universität Marburg
2007
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| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | PDF-повний текст |
| Теги: |
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Das Ziel dieser Dissertation ist die Interpretation von Daten, die mit der kürzlich entwickelten optischen zweidimensionalen Fourier-Transform-Spektroskopie (2D-FTS),angewandt auf Halbleiter-Nanostrukturen, gewonnen wurden. Dies erfordert eine Analyse der diagnostischen Möglichkeiten dieser Methode und ihres Anwendungsbereiches. Die Hauptidee der 2D-FTS ist es, Informationen über das angeregte System zu gewinnen und dabei verschiedene Beiträge der Kopplungen innerhalb des angeregten Vielteilchensystems zu entflechten. Es wurde gezeigt, dass 2D-FTS gut geeignet für die Untersuchung von Halbleitermaterialien ist, insbesondere für deren detaillierte Charakterisierung bezüglich der Unordnung und der Coulomb-Korrelationen.