Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
Gespeichert in:
主要作者: | |
---|---|
其他作者: | |
格式: | Dissertation |
语言: | German |
出版: |
Philipps-Universität Marburg
2005
|
主题: | |
在线阅读: | PDF-Volltext |
标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|
成为第一个发表评论!