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Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
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| Format: | Dissertation |
| Język: | German |
| Wydane: |
Philipps-Universität Marburg
2005
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| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | PDF pełnotekstowe |
| Etykiety: |
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