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Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
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| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Dissertation |
| Taal: | German |
| Gepubliceerd in: |
Philipps-Universität Marburg
2005
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| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | PDF Full text |
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