Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
-д хадгалсан:
Үндсэн зохиолч: | |
---|---|
Бусад зохиолчид: | |
Формат: | Dissertation |
Хэл сонгох: | German |
Хэвлэсэн: |
Philipps-Universität Marburg
2005
|
Нөхцлүүд: | |
Онлайн хандалт: | PDF-н бүрэн текст |
Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
Хамгийн түрүүнд сэтгэгдэл үлдээх!