Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen

Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...

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Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Torunski, Torsten
Awduron Eraill: Stolz, Wolfgang (Dr. habil.) (Cynghorydd traethodau ymchwil)
Fformat: Dissertation
Iaith:German
Cyhoeddwyd: Philipps-Universität Marburg 2005
Pynciau:
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