Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | |
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Awduron Eraill: | |
Fformat: | Dissertation |
Iaith: | German |
Cyhoeddwyd: |
Philipps-Universität Marburg
2005
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Pynciau: | |
Mynediad Ar-lein: | Testun PDF llawn |
Tagiau: |
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