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Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Další autoři: | |
| Médium: | Dissertation |
| Jazyk: | German |
| Vydáno: |
Philipps-Universität Marburg
2005
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| Témata: | |
| On-line přístup: | Plný text ve formátu PDF |
| Tagy: |
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