Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen
Das Verständnis der Struktur und der Morphologie von N-haltigen GaAs-basierenden Materialsystemen baut auf der erfolgreichen Anwendungen verschiedener neuartiger transmissionselektronenmikroskopischer Studien (TEM-Studien) in Kombination mit unterschiedlichen theoretischen Modellierungen auf. Dahe...
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格式: | Dissertation |
語言: | German |
出版: |
Philipps-Universität Marburg
2005
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在線閱讀: | PDF-Volltext |
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PDF-Volltext索引號: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2005-05104 |
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Publikationsdatum: |
2005-11-22 |
Datum der Annahme: |
2005-07-25 |
Downloads: |
89 (2024), 172 (2023), 138 (2022), 278 (2021), 242 (2020), 396 (2019), 198 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
Zugangs-URL: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2005/0510 https://doi.org/10.17192/z2005.0510 |