Torunski, T., & Stolz, W. (2005). Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/https://doi.org/10.17192/z2005.0510
Chicago Style (17th ed.) CitationTorunski, Torsten, and Wolfgang Stolz. Elektronenmikroskopische Untersuchungen Zur Quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen. Philipps-Universität Marburg, 2005. https://dx.doi.org/https://doi.org/10.17192/z2005.0510.
MLA (8th ed.) CitationTorunski, Torsten, and Wolfgang Stolz. Elektronenmikroskopische Untersuchungen Zur Quantitativen Analyse N-haltiger III/V-Halbleiterheterostrukturen. Philipps-Universität Marburg, 2005.
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