Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

Whakaahuatanga katoa

I tiakina i:
Ngā taipitopito rārangi puna kōrero
Kaituhi matua: Klues, Michael
Hōputu: Bachelorarbeit
Reo:Tiamana
I whakaputaina: Philipps-Universität Marburg 2010
Ngā marau:
Urunga tuihono:Kuputuhi katoa PDF
Tags: Tāpirihia he Tūtohu
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