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Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM
Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...
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| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Bachelorarbeit |
| Язык: | немецкий |
| Опубликовано: |
Philipps-Universität Marburg
2010
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | PDF-полный текст |
| Метки: |
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|
Internet
PDF-полный текст| Шифр: |
urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084 |
|---|---|
| Дата публикации: |
2010-07-08 |
| Downloads: |
177 (2024), 317 (2023), 223 (2022) |
| Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
| Доступ через URL: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008 https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008 |