Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Klues, Michael
Ձևաչափ: Bachelorarbeit
Լեզու:գերմաներեն
Հրապարակվել է: Philipps-Universität Marburg 2010
Խորագրեր:
Lichtabsorption
Metallschicht
Schwingquarz
plane correction
Schichtdicke
Physik
Physics
Առցանց հասանելիություն:PDF ամբողջական տեքստ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Համացանց

PDF ամբողջական տեքստ

Պահումների մանրամասները
Դասիչ: urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084
Հրապարակման ամսաթիվ: 2010-07-08
Downloads: 177 (2024), 317 (2023), 223 (2022)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Հասանելի URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008
https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008

Նմանատիպ նյութեր