Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

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Main Author: Klues, Michael
Format: Bachelors Thesis
Language:German
Published: Philipps-Universität Marburg 2010
Subjects:
Lichtabsorption
Metallschicht
Schwingquarz
plane correction
Schichtdicke
Physik
Physics
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Call Number: urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084
Publication Date: 2010-07-08
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License: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Access URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008
https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008

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