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Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM
Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Bachelorarbeit |
| Γλώσσα: | Γερμανικά |
| Έκδοση: |
Philipps-Universität Marburg
2010
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| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Πλήρες κείμενο PDF |
| Ετικέτες: |
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Διαδίκτυο
Πλήρες κείμενο PDF| Ταξινομικός Αριθμός: |
urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084 |
|---|---|
| Ημερομηνία έκδοσης: |
2010-07-08 |
| Downloads: |
177 (2024), 317 (2023), 223 (2022) |
| Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008 https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008 |