Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

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Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Klues, Michael
Fformat: Bachelorarbeit
Iaith:Almaeneg
Cyhoeddwyd: Philipps-Universität Marburg 2010
Pynciau:
Lichtabsorption
Metallschicht
Schwingquarz
plane correction
Schichtdicke
Physik
Physics
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Manylion daliadau o
Rhif Galw: urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084
Dyddiad Cyhoeddi: 2010-07-08
Downloads: 169 (2024), 317 (2023), 223 (2022)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL mynediad: https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008
https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008

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