Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

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Автор: Klues, Michael
Формат: Bachelorarbeit
Мова:німецька
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2010
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Шифр: urn:nbn:de:hebis:04-ed2010-00084
Дата публікації: 2010-07-08
Downloads: 156 (2024), 317 (2023), 223 (2022)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Доступ через URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/ed/2010/0008
https://doi.org/10.17192/ed.2010.0008