Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM
Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...
Gespeichert in:
主要作者: | |
---|---|
格式: | Bachelorarbeit |
语言: | 德语 |
出版: |
Philipps-Universität Marburg
2010
|
主题: | |
在线阅读: | PDF-Volltext |
标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|
No citations were found for this record.