Schichtdickenbestimmung dünner Metallfilme mittels Schwingquarzwaage, Lichtabschwächung und AFM

Für die Forschung mit molekularen Halbleitern sind oftmals Substrate mit besonderen Eigenschaften nötig. Zu diesem Zweck wurden im Rahmen der Arbeit mit Hilfe eines Bedampfungsverfahrens Schichten aus Silber und Gold hergestellt. Ein kritischer Faktor dabei ist die Kontrolle der Aufdampfrate, die mi...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Klues, Michael
Aineistotyyppi: Bachelorarbeit
Kieli:saksa
Julkaistu: Philipps-Universität Marburg 2010
Aiheet:
Linkit:PDF-kokoteksti
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!