Результати пошуку - Volz, Kerstin (Prof. Dr.)

  • Показ 1 - 19 результатів із 19
Уточнити результати
  1. 1
    Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy

    Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy за авторством Krug, David Peter

    Опубліковано 2023
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions

    In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions за авторством Widemann, Maximilian

    Опубліковано 2023
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 3
    Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM

    Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM за авторством Firoozabadi, Seyyed Salehedin

    Опубліковано 2022
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  4. 4
    Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates

    Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates за авторством Hepp, Thilo

    Опубліковано 2022
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  5. 5
    Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE

    Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE за авторством Maßmeyer, Oliver Peter

    Опубліковано 2021
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  6. 6
    Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations

    Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations за авторством Belz, Jürgen

    Опубліковано 2019
    Інші автори: “...Volz, Kerstin ( Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  7. 7
    Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations

    Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations за авторством Duschek, Lennart

    Опубліковано 2019
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  8. 8
    Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations

    Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations за авторством Kükelhan, Pirmin

    Опубліковано 2019
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  9. 9
    (Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics

    (Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics за авторством Sterzer, Eduard

    Опубліковано 2018
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  10. 10
    In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials

    In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials за авторством Straubinger, Rainer

    Опубліковано 2018
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  11. 11
    MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup

    MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup за авторством Nattermann, Lukas Klaus

    Опубліковано 2017
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  12. 12
    Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy

    Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy за авторством Han, Han

    Опубліковано 2017
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  13. 13
    Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates

    Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates за авторством Félix Ángel, Rocío

    Опубліковано 2017
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  14. 14
    Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate

    Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate за авторством Ott, Andrea

    Опубліковано 2017
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  15. 15
    Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

    Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy за авторством Knaub, Nikolai

    Опубліковано 2016
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  16. 16
    Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy

    Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy за авторством Wegele, Tatjana

    Опубліковано 2016
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  17. 17
    Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes

    Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes за авторством Ludewig, Peter

    Опубліковано 2014
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  18. 18
    Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

    Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM за авторством Fritz, Rafael

    Опубліковано 2014
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  19. 19
    Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium

    Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium за авторством Beyer, Andreas

    Опубліковано 2012
    Інші автори: “...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)...”
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: