תוצאות חיפוש - Volz, Kerstin (Prof. Dr.)

Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy מאת Krug, David Peter

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions מאת Widemann, Maximilian

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM מאת Firoozabadi, Seyyed Salehedin

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates מאת Hepp, Thilo

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE מאת Maßmeyer, Oliver Peter

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations מאת Belz, Jürgen

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin ( Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations מאת Duschek, Lennart

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations מאת Kükelhan, Pirmin

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

(Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics מאת Sterzer, Eduard

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials מאת Straubinger, Rainer

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup מאת Nattermann, Lukas Klaus

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy מאת Han, Han

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates מאת Félix Ángel, Rocío

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate מאת Ott, Andrea

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy מאת Knaub, Nikolai

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy מאת Wegele, Tatjana

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes מאת Ludewig, Peter

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM מאת Fritz, Rafael

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext

Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium מאת Beyer, Andreas

מחברים אחרים: "...Volz, Kerstin (Prof. Dr.)..."
PDF-Volltext