Résultats de la recherche - Volz, Kerstin (Prof. Dr.)

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    Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy

    Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy par Krug, David Peter

    Publié 2023
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  2. 2
    In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions

    In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions par Widemann, Maximilian

    Publié 2023
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    Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM

    Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM par Firoozabadi, Seyyed Salehedin

    Publié 2022
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    Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates

    Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates par Hepp, Thilo

    Publié 2022
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  5. 5
    Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE

    Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE par Maßmeyer, Oliver Peter

    Publié 2021
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  6. 6
    Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations

    Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations par Belz, Jürgen

    Publié 2019
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    Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations

    Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations par Duschek, Lennart

    Publié 2019
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    Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations

    Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations par Kükelhan, Pirmin

    Publié 2019
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    (Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics

    (Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics par Sterzer, Eduard

    Publié 2018
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  10. 10
    In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials

    In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials par Straubinger, Rainer

    Publié 2018
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  11. 11
    MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup

    MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup par Nattermann, Lukas Klaus

    Publié 2017
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  12. 12
    Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy

    Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy par Han, Han

    Publié 2017
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  13. 13
    Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates

    Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates par Félix Ángel, Rocío

    Publié 2017
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  14. 14
    Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate

    Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate par Ott, Andrea

    Publié 2017
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  15. 15
    Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy

    Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy par Knaub, Nikolai

    Publié 2016
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  16. 16
    Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy

    Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy par Wegele, Tatjana

    Publié 2016
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  17. 17
    Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes

    Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes par Ludewig, Peter

    Publié 2014
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  18. 18
    Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

    Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM par Fritz, Rafael

    Publié 2014
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  19. 19
    Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium

    Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium par Beyer, Andreas

    Publié 2012
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