نتائج البحث - Volz, Kerstin (Prof. Dr.)

Growth Dynamics and Morphology of GaP Nanowires investigated via Transmission Electron Microscopy حسب Krug, David Peter

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions حسب Widemann, Maximilian

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM حسب Firoozabadi, Seyyed Salehedin

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Epitaxial Growth of Highly Mismatched Alloys on GaAs Substrates حسب Hepp, Thilo

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Investigation of the Surface Reconstruction and Gas Phase Composition during Growth by MOVPE حسب Maßmeyer, Oliver Peter

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations حسب Belz, Jürgen

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin ( Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations حسب Duschek, Lennart

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations حسب Kükelhan, Pirmin

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

(Ga,In)(N,As,Sb) Solar Cells: N Incorporation using Novel Precursor in MOVPE Growth and Solar Cell Characteristics حسب Sterzer, Eduard

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

In Situ Thermal Annealing and Growth Investigations on III/V Semiconductor Materials حسب Straubinger, Rainer

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

MOVPE Growth Studies on Dilute Bismide Containing III/Vs & Development of an MOVPE In-Situ Gas Phase Analysis Setup حسب Nattermann, Lukas Klaus

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy حسب Han, Han

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Electron Microscopy Characterization of Pentacene and Perfluoropentacene Grown on Different Substrates حسب Félix Ángel, Rocío

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate حسب Ott, Andrea

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Structural analysis of dilute bismide alloys by means of high resolution scanning transmission electron microscopy حسب Knaub, Nikolai

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Microstructural Characterization of Dilute N-Containing Semiconductor Alloys and Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy حسب Wegele, Tatjana

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Growth and characterization of dilute bismide GaAs based alloys for high efficiency infra red laser diodes حسب Ludewig, Peter

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM حسب Fritz, Rafael

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل

Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium حسب Beyer, Andreas

مؤلفون آخرون: "…Volz, Kerstin (Prof. Dr.)…"
PDF النص الكامل