Результати пошуку - Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.)
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) за авторством Zakel, Julia
Опубліковано 2014Інші автори: “...Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.)...”
Шифр: diss/z2014/0338PDF-повний текст
Dissertation