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Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) por Zakel, Julia
Publicado 2014Otros Autores: “…Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.)…”
Número de Clasificación: diss/z2014/0338Texto Completo PDF
Dissertation