Αποτελέσματα αναζήτησης - Höchbauer, Tobias

  • Εμφανίζονται 1 - 1 Αποτελέσματα από 1
Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    On the mechanisms of hydrogen implantation induced silicon surface layer cleavage

    On the mechanisms of hydrogen implantation induced silicon surface layer cleavage από Höchbauer, Tobias

    Έκδοση 2001
    Πλήρες κείμενο PDF
    Dissertation
    Προσθήκη στα αγαπημένα
    Αποθηκεύτηκε σε:

Εργαλεία αναζήτησης: