Результати пошуку - Höchbauer, Tobias

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    On the mechanisms of hydrogen implantation induced silicon surface layer cleavage

    On the mechanisms of hydrogen implantation induced silicon surface layer cleavage за авторством Höchbauer, Tobias

    Опубліковано 2001
    PDF-повний текст
    Dissertation
    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: